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　　國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)技術(shù)講座-臺(tái)式高分辨率植物計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)

　　臺(tái)式高分辨率植物計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可對(duì)植物組織、果實(shí)、種子進(jìn)行三維成像分析，可獲取形態(tài)學(xué)以及內(nèi)部性狀信息，分辨率高，能夠清晰顯示被測(cè)物內(nèi)部微小結(jié)構(gòu)植物種子三維結(jié)構(gòu)研究，無(wú)損探索植物花苞、種子腔體、胚和胚乳的變化、果實(shí)內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化、植物莖稈等剖面結(jié)構(gòu)和三維結(jié)構(gòu)，把植物內(nèi)部結(jié)構(gòu)的“黑匣子”打開(kāi)變成清晰的圖像和數(shù)據(jù)，可對(duì)人眼看不見(jiàn)的部位進(jìn)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)解析和測(cè)量。

　　作物遺傳與種質(zhì)創(chuàng)新國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室新購(gòu)置臺(tái)式高分辨率植物計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)一套(廠家：德國(guó)Fraunhofer、型號(hào)：CTportable 160.90)，為發(fā)揮該儀器在科研工作中的先進(jìn)性能，特邀請(qǐng)廠家技術(shù)工程師介紹該技術(shù)在農(nóng)業(yè)領(lǐng)域尤其是植物表型研究方面的應(yīng)用，歡迎老師、同學(xué)參加。

　　報(bào)告題目：Digital phenotyping with state of the art xray technology(基于X射線技術(shù)的數(shù)字化植物表型研究)

　　主講人：Joelle Claussen 博士(德國(guó)Fraunhofer研究所)

　　時(shí) 間：2019年7月18日(周四)上午9:30-10:30

　　地 點(diǎn)：國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室學(xué)術(shù)報(bào)告廳(理科樓A201)

　　主講人簡(jiǎn)介：Joelle Claussen 博士，德國(guó)Fraunhofer研究所(弗勞恩霍夫集成電路研究所)研究員，就職于x射線技術(shù)開(kāi)發(fā)中心，致力于生物與農(nóng)業(yè)領(lǐng)域的計(jì)算機(jī)斷層掃描測(cè)量與數(shù)據(jù)分析。

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